手機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)分享

日期：2025-07-04 17:53

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摘要：

手機(jī)行業(yè)可靠性檢測(cè)是不可少的，那么手機(jī)可靠性測(cè)試有哪些項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)呢，下面有弘寶技術(shù)部對(duì)手機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)分享
1、目的此可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的目的是盡可能的挖掘設(shè)計(jì)、制造過(guò)程中潛在的問(wèn)題，在正式投產(chǎn)之前找到改善的方法并解決上述問(wèn)題點(diǎn)，為正式生產(chǎn)在產(chǎn)品質(zhì)量上作必要的保證；并檢測(cè)產(chǎn)品是否具備設(shè)計(jì)上的成熟性，使用上的可靠性。具體包括新產(chǎn)品的實(shí)驗(yàn)，物料的實(shí)驗(yàn)以及例行抽檢實(shí)驗(yàn)等。
2、適用范圍此標(biāo)準(zhǔn)只適合輝燁通訊技術(shù)有限公司生產(chǎn)的移動(dòng)通訊產(chǎn)品。
3、可靠性測(cè)試項(xiàng)目及方法
3.1 高溫儲(chǔ)存試驗(yàn) 試驗(yàn)?zāi)康模簷z驗(yàn)產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下存儲(chǔ)的適應(yīng)性。試驗(yàn)設(shè)備：恒溫恒濕試驗(yàn)箱試驗(yàn)樣機(jī)：2~4PCS 試驗(yàn)內(nèi)容：試驗(yàn)樣機(jī)帶電池及電池后蓋，不插SIM卡關(guān)機(jī)狀態(tài) 以正常位置放進(jìn)試驗(yàn)箱內(nèi)。使試驗(yàn)箱在30分鐘內(nèi)溫度達(dá)到70±2℃，溫度穩(wěn)定后持續(xù)48小時(shí)。持續(xù)期滿后將試驗(yàn)樣機(jī)在正常大氣條件下放置2小時(shí)，之后對(duì)試驗(yàn)樣機(jī)進(jìn)行試驗(yàn)后檢查。判定標(biāo)準(zhǔn)：通過(guò)基本功能測(cè)試，外觀及結(jié)構(gòu)正常。
3.2 低溫儲(chǔ)存試驗(yàn) 試驗(yàn)?zāi)康模簷z驗(yàn)產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下存儲(chǔ)的適應(yīng)性。
試驗(yàn)設(shè)備：恒溫恒濕試驗(yàn)箱試驗(yàn)樣機(jī)：2~4PCS 試驗(yàn)內(nèi)容：試驗(yàn)樣機(jī)（需包裝）帶電池及電池后蓋，不插SIM 卡關(guān)機(jī)狀態(tài)以正常位置放進(jìn)試驗(yàn)箱內(nèi)。使試驗(yàn)箱在30分鐘內(nèi)溫度達(dá)到-20±3℃，溫度穩(wěn)定后持續(xù)48小時(shí)。持續(xù)期滿后將試驗(yàn)樣機(jī)在正常大氣條件下放置2小時(shí)，之后對(duì)試驗(yàn)樣機(jī)進(jìn)行試驗(yàn)后檢查。判定標(biāo)準(zhǔn)：通過(guò)基本功能測(cè)試，外觀及結(jié)構(gòu)正常。
3.3 高溫工作試驗(yàn) 試驗(yàn)?zāi)康模簷z驗(yàn)產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下使用的適應(yīng)性試驗(yàn)設(shè)備：恒溫恒濕試驗(yàn)箱試驗(yàn)樣機(jī)：2~4PCS 試驗(yàn)內(nèi)容：試驗(yàn)樣機(jī)帶電池及電池后蓋，插上SIM卡及T卡，處于待機(jī)狀態(tài)（滑/翻蓋處于打開(kāi)狀態(tài)），以正常位置放進(jìn)試驗(yàn)箱內(nèi)。使試驗(yàn)箱在30分鐘內(nèi)溫度達(dá)到55±2℃，溫度穩(wěn)定后持續(xù)8小時(shí)。持續(xù)期滿后立即對(duì)測(cè)試樣機(jī)進(jìn)行試驗(yàn)后檢查。判定標(biāo)準(zhǔn)：通過(guò)基本功能測(cè)試，外觀及結(jié)構(gòu)正常。
3.4 低溫工作試驗(yàn) 試驗(yàn)?zāi)康模簷z驗(yàn)產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下使用的適應(yīng)性試驗(yàn)設(shè)備：恒溫恒濕試驗(yàn)箱試驗(yàn)樣機(jī)：2~4PCS
試驗(yàn)內(nèi)容：試驗(yàn)樣機(jī)帶電池及電池后蓋，插上SIM卡及T卡，處于待機(jī)狀態(tài)（滑/翻蓋處于打開(kāi)狀態(tài)），以正常位置放進(jìn)試驗(yàn)箱內(nèi)。使試驗(yàn)箱在30分鐘內(nèi)溫度達(dá)到-20±3℃，溫度穩(wěn)定后持續(xù)8小時(shí)。持續(xù)期滿后立即對(duì)測(cè)試樣機(jī)進(jìn)行試驗(yàn)后檢查。判定標(biāo)準(zhǔn)：通過(guò)基本功能測(cè)試，外觀及結(jié)構(gòu)正常。
3.5 滑蓋壽命試驗(yàn) 試驗(yàn)?zāi)康模候?yàn)證機(jī)殼材料、FPC、滑軌的壽命以及滑蓋組件結(jié)構(gòu) 的配合壽命。試驗(yàn)設(shè)備：滑蓋壽命測(cè)試機(jī) 試驗(yàn)樣機(jī)：2~4PCS 試驗(yàn)內(nèi)容：試驗(yàn)樣機(jī)帶電池及電池后蓋，插上SIM卡，處于待機(jī)狀態(tài)；以25~35次/分的速度滑動(dòng)滑蓋，來(lái)回為一次；要求滑蓋須達(dá)到*大活動(dòng)位置及*小活動(dòng)位置；每2萬(wàn)次進(jìn)行外觀功能全檢。試驗(yàn)總數(shù)為10萬(wàn)次（出貨為6萬(wàn)次）。判定標(biāo)準(zhǔn)：滑蓋壽命至少10萬(wàn)次；外觀和結(jié)構(gòu)正常，未有明顯的裂紋/破損；無(wú)明顯異常響聲；允許打開(kāi)時(shí)有阻滯感，打開(kāi)滑蓋后整個(gè)滑蓋組件可前后左右輕微晃動(dòng)；必須通過(guò)基本功能測(cè)試。
3.6 翻蓋壽命試驗(yàn) 試驗(yàn)?zāi)康模候?yàn)證機(jī)殼材料、FPC、轉(zhuǎn)軸的壽命以及翻蓋組件結(jié)構(gòu)
的配合壽命。試驗(yàn)設(shè)備：翻蓋壽命測(cè)試機(jī) 試驗(yàn)樣機(jī)：2~4PCS 試驗(yàn)內(nèi)容：試驗(yàn)樣機(jī)帶電池及電池后蓋，插上SIM卡，處于待機(jī)狀態(tài)；以25~35次/分的速度翻動(dòng)翻蓋，來(lái)回為一次；要求翻蓋須達(dá)到*大活動(dòng)位置；每2萬(wàn)次進(jìn)行外觀功能全檢。試驗(yàn)總數(shù)為10萬(wàn)次（出貨為6萬(wàn)次）。判定標(biāo)準(zhǔn)：翻蓋壽命至少10萬(wàn)次；外觀和結(jié)構(gòu)正常，未有明顯的裂紋/破損；無(wú)明顯異常響聲；允許打開(kāi)時(shí)有阻滯感，打開(kāi)翻蓋后整個(gè)翻蓋組件可前后左右輕微晃動(dòng)；必須通過(guò)基本功能測(cè)試。手機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)分享
3.7 靜電放電抗擾度試驗(yàn) 試驗(yàn)?zāi)康模簷z驗(yàn)產(chǎn)品的抗靜電性能試驗(yàn)設(shè)備：靜電儀、綜測(cè)儀試驗(yàn)樣機(jī)：2~4PCS 試驗(yàn)內(nèi)容：
1）試驗(yàn)環(huán)境為溫度15 ~35ºC；濕度30~60%RH
2）試驗(yàn)時(shí)要求手機(jī)處于開(kāi)機(jī)充電通話狀態(tài)，在正負(fù) 電壓、帶與不帶充電器、翻/滑蓋閉合與滑開(kāi)幾種狀態(tài)下試驗(yàn)。
3）對(duì)于裸露在機(jī)身表面的金屬部分使用接觸放電，其他區(qū)域則使用空氣放電；每個(gè)測(cè)試點(diǎn)放電10次為一組，共進(jìn)行兩組。
4）空氣放電標(biāo)準(zhǔn)為±8KV；接觸放電標(biāo)準(zhǔn)為±4KV。
5）試驗(yàn)完畢檢查手機(jī)的各項(xiàng)基本功能，并進(jìn)行電性能檢查。判定標(biāo)準(zhǔn)：樣機(jī)出現(xiàn)功能暫時(shí)性（失效時(shí)間大于3秒）或長(zhǎng)久性失效（故障不恢復(fù)）判為不合格。樣機(jī)出現(xiàn)閃屏或3秒內(nèi)可自行恢復(fù)之故障判為合格。樣機(jī)出現(xiàn)射頻對(duì)比測(cè)試數(shù)據(jù)異常（接收?qǐng)?bào)告電平與功率相差大于3）判為不合格。樣機(jī)出現(xiàn)嚴(yán)重外觀**(如鏡片及裝飾牌等嚴(yán)重掉漆)，應(yīng)判定為不合格。
3.8 10㎝裸機(jī)微跌試驗(yàn) 試驗(yàn)?zāi)康模簷z驗(yàn)產(chǎn)品在使用中產(chǎn)生輕微撞擊的適應(yīng)性。試驗(yàn)設(shè)備：手機(jī)跌落測(cè)試機(jī) 試驗(yàn)樣機(jī)：2~4PCS 試驗(yàn)內(nèi)容：試驗(yàn)樣機(jī)插SIM卡開(kāi)機(jī)，翻/滑蓋機(jī)閉合狀態(tài)；跌落面為鋁板；跌落高度為10㎝；跌落方式：樣機(jī)6個(gè)面每面跌落500次為一循環(huán)，共4個(gè)循環(huán)；每完成一個(gè)循環(huán)檢查一次試驗(yàn)樣機(jī)的外觀及基本功能；測(cè)試速度為15次/分；判定標(biāo)準(zhǔn)：通過(guò)基本功能測(cè)試，未有明顯的裂紋/破損，內(nèi)部無(wú) 零件松動(dòng)或異常。
3.9 1m裸機(jī)跌落試驗(yàn)
試驗(yàn)?zāi)康模簷z驗(yàn)產(chǎn)品多次跌落的適應(yīng)性試驗(yàn)設(shè)備：手機(jī)跌落測(cè)試機(jī) 試驗(yàn)樣機(jī)：2~4PCS 試驗(yàn)內(nèi)容：試驗(yàn)樣機(jī)插SIM卡處于通電待機(jī)狀態(tài)，從1m高度（如果LCM面積超過(guò)手機(jī)表面積60%，跌落高度為50㎝），初速度為0并自由跌落于光滑混凝土地面上；6個(gè)面，每個(gè)面跌落2次，共12次（翻蓋機(jī)型增加跌翻蓋打開(kāi)2面，8個(gè)面共16次）；試驗(yàn)結(jié)束對(duì)試驗(yàn)樣機(jī)進(jìn)行**檢測(cè)。判定標(biāo)準(zhǔn)：通過(guò)基本功能測(cè)試，未有明顯的裂紋/破損，內(nèi)部無(wú) 零件松動(dòng)或異常。
3.10 1.5m裸機(jī)跌落試驗(yàn) 試驗(yàn)?zāi)康模簷z驗(yàn)產(chǎn)品多次跌落的適應(yīng)性試驗(yàn)設(shè)備：手機(jī)跌落測(cè)試機(jī) 試驗(yàn)樣機(jī)：2~4PCS 試驗(yàn)內(nèi)容：試驗(yàn)樣機(jī)插SIM卡處于通電待機(jī)狀態(tài)，從1.5m高度（如果LCM面積超過(guò)手機(jī)表面積60%，跌落高度為75㎝），初速度為0并自由跌落于光滑混凝土地面上；6個(gè)面，每個(gè)面跌落2次，共12次（翻蓋機(jī)型增加跌翻蓋打開(kāi)2面，8個(gè)面共16次）；試驗(yàn)結(jié)束對(duì)試驗(yàn)樣機(jī)進(jìn)行**檢測(cè)。判定標(biāo)準(zhǔn)：通過(guò)基本功能測(cè)試，未有明顯的裂紋/破損，內(nèi)部無(wú)零件松動(dòng)或異常。以上就是手機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)分享

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